Contenuti
Attrezzature
Microscopi
Microscopio a scansione elettronica (SEM)
VEGA TS 5130 LM (Tescan)
Microscopio a scansione elettronica completo di sistema di microanalisi EDS, con possibiltà di lavorare a pressione variabile. Permette l’analisi di campioni in condizioni di basso vuoto.
Microscopio a scansione elettronica completo di sistema di microanalisi EDS, con possibiltà di lavorare a pressione variabile. Permette l’analisi di campioni in condizioni di basso vuoto.
Microscopi a scansione di sonda
D3100 (Veeco)
Sistema in configurazione cosiddetta “stand alone” equipaggiato con scanner piezoelettrico per scansioni di punta con range di scansione 100umx100umx5um. Tale configurazione permette la misura delle proprietà superficiali di campioni di grandi dimensioni (fino a circa 200mm di diametro).
Ntegra (NT-MDT)
Sistema che consente sia la configurazione “stand alone” che la configurazione “a C”, ovvero è equipaggiato con scanner piezoelettrici sia per la modalità a scansione di campione sia di punta. Ciò consente l’utilizzo di un ampio range di dimensioni di scansione sia nel piano xy che nella direzione z. Possibilità di effetturare misure AFM e STM con scanner 75umx75umx5um o scanner 4umx4umx1um. Misure elettriche, in cella fluida, a temperatura variabile da RT a 300C, misure acustiche per proprietà meccaniche.
A10 (APE Research)
Sistema dotato di due scanner separati per il movimento xy e z; lo scanner xy è uno scanner piano che consente elevata linearità di scansione, accuratezza e riproducibilità del posizionamento. Range di scansione 50umx50umx12um.
Sistema in configurazione cosiddetta “stand alone” equipaggiato con scanner piezoelettrico per scansioni di punta con range di scansione 100umx100umx5um. Tale configurazione permette la misura delle proprietà superficiali di campioni di grandi dimensioni (fino a circa 200mm di diametro).
Ntegra (NT-MDT)
Sistema che consente sia la configurazione “stand alone” che la configurazione “a C”, ovvero è equipaggiato con scanner piezoelettrici sia per la modalità a scansione di campione sia di punta. Ciò consente l’utilizzo di un ampio range di dimensioni di scansione sia nel piano xy che nella direzione z. Possibilità di effetturare misure AFM e STM con scanner 75umx75umx5um o scanner 4umx4umx1um. Misure elettriche, in cella fluida, a temperatura variabile da RT a 300C, misure acustiche per proprietà meccaniche.
A10 (APE Research)
Sistema dotato di due scanner separati per il movimento xy e z; lo scanner xy è uno scanner piano che consente elevata linearità di scansione, accuratezza e riproducibilità del posizionamento. Range di scansione 50umx50umx12um.
Microscopio ottico a scansione in Near-Field
Alpha SNOM (Witec)
Microscopio ottico con risoluzione sub-lambda e misura simultanea di proprietà ottiche e morfologiche. Permette la misura di spettri di fluorescenza e Raman risolti lateralmente e l'acquisizione di mappe con range xy massimo 200umx200um. Il sistema è dotato di due laser (150 mW Ar and 75 mW HeNe) ed uno spettrometro ottico (400-900 nm), 5 detectors di cui una CCD, due PMTs e due APDs.
Microscopio ottico con risoluzione sub-lambda e misura simultanea di proprietà ottiche e morfologiche. Permette la misura di spettri di fluorescenza e Raman risolti lateralmente e l'acquisizione di mappe con range xy massimo 200umx200um. Il sistema è dotato di due laser (150 mW Ar and 75 mW HeNe) ed uno spettrometro ottico (400-900 nm), 5 detectors di cui una CCD, due PMTs e due APDs.
Microscopio Metallografico
LOM DM6000M (Leica)
Microscopio metallografico da ricerca per le osservazioni in luce riflessa: campo chiaro, scuro, contrasto interferenziale, fluorescenza e contrasto di fase. Inoltre è dotata di una workstation dedicata alle applicazioni in campo industriale conforme ad un ampio range di standard per l’analisi dei grani, analisi dello spessore, misura di decarburizzazione, analisi dei noduli di grafite, analisi delle percentuali di fase.
Microscopio metallografico da ricerca per le osservazioni in luce riflessa: campo chiaro, scuro, contrasto interferenziale, fluorescenza e contrasto di fase. Inoltre è dotata di una workstation dedicata alle applicazioni in campo industriale conforme ad un ampio range di standard per l’analisi dei grani, analisi dello spessore, misura di decarburizzazione, analisi dei noduli di grafite, analisi delle percentuali di fase.
Microscopio Stereoscopico
Stereozoom S6E (Leica)
Microscopio in luce riflessa, con ottica zoom con rapporto di ingrandimento di 6.3:1, angolo di osservazione a 38º.
Microscopio in luce riflessa, con ottica zoom con rapporto di ingrandimento di 6.3:1, angolo di osservazione a 38º.