lunedì, 06 settembre 2010

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Laboratori

Material Properties Labs

Pycnometer

AccuPyc 1330 (PsS)
Strumento per la misurazione della densità e della porosità di solidi con volumi da 0.1 a 100 mL.

Contact angle tester

FTA 1000 (First Ten Angstrom)
Strumento che misura l’angolo di contatto e attraverso valutazioni geometriche effettuate da appositi software di interpretazione di immagine permette di valutare l'affinità di una superficie con liquidi specifici e definire l'energia superficiale di un materiale.

Permeabilimetro

MultiPerm (ExtraSolution)
Strumento a singola cella per la misurazione della permeabilità a gas (CO2, O2) di film polimerici

Glossmeter

Pico 500 (Erichsen)
Riflettometro a due angoli (20° e 60°) per la misura della brillantezza delle superfici.

Colorimetro

SP64 (X-rite)
Spettrofotometro a sfera d/8 per la misura delle proprietà colorimetriche delle superfici.

Microtribometer UMT

(CETR)
Strumentazione in grado di realizzare test tribologici di usura quali pin-on-disc e ball-on-disc, sia secondo vari standard ASTM e ISO che mediante procedure di test custom per l’analisi di film sottili e spessi, di materiali metallici, ceramici, polimerici, ecc. La velocità rotazionale va da 0,001 a 5000 rpm, il carico da 0.5 mN a 500N. Tutti i parametri, inclusa forza di frizione e torcente, emissione acustica, temperatura e profondità di usura sono misurate simultaneamente. I test possono essere condotti fino a 700°C.

Microhardness tester

VMHT (Leica)
Strumento in grado di determinare la durezza di qualsiasi materiale e superficie su scala micrometrica. Il penetratore è di tipo Vickers e lo stativo è equipaggiato con una serie di pesi che variano da 1g fino a 2Kg che sono applicati in automatico.

Nanotest Platform

Nanotest (Micro Materials)
Stazione di misura per le proprietà meccaniche (durezza, modulo elastico e adesione) su scala nanometrica e micrometrica. Consiste di più strumenti integrati in un unica piattaforma: il modulo per la nanoindentazione che utilizza un nanotest a pendolo in grado di realizzare test a carico progressivo e costante, con profili di carico programmabili; inoltre, velocità di contatto e posizione della superficie di contatto sono impostabili per la realizzazione di test a carichi ultra_bassi (<1mN). Le misure di durezza e modulo elastico si possono effettuare fino a 500°C.

Spettrofotometro UV/Vis

Lambda 25 (PerkinElmer)
Spettrofotometro a doppio raggio ottico reale che permette la simultanea lettura del campione e di uno standard di riferimento. Mediante misure di assorbanza e trasmittanza della luce incidente, in un range di lunghezze d’onda operanti nella regione sia dell’ultravioletto che del visibile (190-1100 nm), è possibile determinare qualitativamente e quantitativamente la presenza di particolari cromofori e delle molecole a cui appartengono, consentendone la caratterizzazione.

DC Power supply

E3631A (Agilent)
Generatore da 80 watt con tre uscite indipendenti (0 - 6V / 5A e 0 - ± 25V / 1A) controllabile e programmabile da interfaccia GPIB e RS-232.

E3649A (Agilent)
Generatore da 100 watt con due uscite indipendenti (0 - 60V / 0.8A o 0 - 35V / 1.4A ) controllabile e programmabile da interfaccia GPIB e RS-232.

Digital multimeter

WaveRunner 6030A (LeCroy)
Oscilloscopio X-stream a 4 canali con banda a 350MHz con Front End in tecnologia Silicio-Germanio. Sensibilità da 2mV/div a 1V/div con input impedance di 50Ω e da 2mV/div a 10V/div con input impedance di 1MΩ. Risoluzione verticale a 8 bits estendibile a 11 bits.

Four Point Probe Equipment Multiheight Probe

(Jandel)
Sistema per fare misure a quattro terminali di resistività e resistività di superficie di campioni di differenti dimensioni con profondità fino a 25cm ed altezza fino a 15cm.

SourceMeter

2400 (Keithley)
Strumento che integra un DC power source con un multimetro con risoluzione a 5 ½ digit. Può fornire una potenza di 20W con tensioni da ±5μV (sourcing) e da ±1μV (measuring) fino a ±200V e correnti da ±10pA a ±1A. Permette misure di resistenza a 2, 4 e 6 terminali fino a 1700 letture al secondo via interfaccia GPIB.

Function/Arbitrary waveform generator

33250A (Agilent)
Generatore di forma d’onda arbitraria con uscita fino a 80 MHz, programmabile e controllabile via interfaccia GPIB e RS-232.

Semiconductor parameter analyzer

4155C (Agilent)
Questo strumento ha n. 4 Medium Power Source/Monitor Units con risoluzione 10fA/2mV, con massima corrente/tensione di uscita di 100mA/100V e con la possibilità di limitare la corrente/tensione di uscita; ha la possibilità di fare misure Capacità vs Tensione quasi statiche con risoluzione 10fF e misure di corrente/tensione nel dominio del tempo con campionamento in modalità logaritmica e memoria superiore ai 4000 punti. È dotato inoltre di una Power SMU da 1A/200V.

Precison LCR meter

4284A (Agilent)
Questo strumento ha la possibilità di fare misure di impedenza nell’intervallo da 0.01Ω a 100MΩ e di ammettenza nell’intervallo da 0.01nS a 100S nell’intervallo di frequenza da 20Hz a 1MHz con risoluzione di ±0.01%; può visualizzare direttamente la misura in termini di resistenza/conduttanza, induttanza, capacità, fattore di qualità/dissipazione e misure di circuito equivalente serie/parallelo.

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