Contenuti
Laboratori
Surface Analysis
Microscopio ottico a scansione in Near-Field
Alpha SNOM (Witec)
Microscopio ottico con risoluzione sub-lambda e misura simultanea di proprietà ottiche e morfologiche. Permette la misura di spettri di fluorescenza e Raman risolti lateralmente e l'acquisizione di mappe con range xy massimo 200umx200um. Il sistema è dotato di due laser (150 mW Ar and 75 mW HeNe) ed uno spettrometro ottico (400-900 nm), 5 detectors di cui una CCD, due PMTs e due APDs.
Microscopio ottico con risoluzione sub-lambda e misura simultanea di proprietà ottiche e morfologiche. Permette la misura di spettri di fluorescenza e Raman risolti lateralmente e l'acquisizione di mappe con range xy massimo 200umx200um. Il sistema è dotato di due laser (150 mW Ar and 75 mW HeNe) ed uno spettrometro ottico (400-900 nm), 5 detectors di cui una CCD, due PMTs e due APDs.
Microscopio Stereoscopico
Stereozoom S6E (Leica)
Microscopio in luce riflessa, con ottica zoom con rapporto di ingrandimento di 6.3:1, angolo di osservazione a 38º.
Microscopio in luce riflessa, con ottica zoom con rapporto di ingrandimento di 6.3:1, angolo di osservazione a 38º.
Microscopio a scansione elettronica (SEM)
VEGA TS 5130 LM (Tescan)
Microscopio a scansione elettronica completo di sistema di microanalisi EDS, con possibiltà di lavorare a pressione variabile. Permette l’analisi di campioni in condizioni di basso vuoto.
Microscopio a scansione elettronica completo di sistema di microanalisi EDS, con possibiltà di lavorare a pressione variabile. Permette l’analisi di campioni in condizioni di basso vuoto.
Microscopi a scansione di sonda
D3100 (Veeco)
Sistema in configurazione cosiddetta “stand alone” equipaggiato con scanner piezoelettrico per scansioni di punta con range di scansione 100umx100umx5um. Tale configurazione permette la misura delle proprietà superficiali di campioni di grandi dimensioni (fino a circa 200mm di diametro).
Ntegra (NT-MDT)
Sistema che consente sia la configurazione “stand alone” che la configurazione “a C”, ovvero è equipaggiato con scanner piezoelettrici sia per la modalità a scansione di campione sia di punta. Ciò consente l’utilizzo di un ampio range di dimensioni di scansione sia nel piano xy che nella direzione z. Possibilità di effetturare misure AFM e STM con scanner 75umx75umx5um o scanner 4umx4umx1um. Misure elettriche, in cella fluida, a temperatura variabile da RT a 300C, misure acustiche per proprietà meccaniche.
A10 (APE Research)
Sistema dotato di due scanner separati per il movimento xy e z; lo scanner xy è uno scanner piano che consente elevata linearità di scansione, accuratezza e riproducibilità del posizionamento. Range di scansione 50umx50umx12um.
Sistema in configurazione cosiddetta “stand alone” equipaggiato con scanner piezoelettrico per scansioni di punta con range di scansione 100umx100umx5um. Tale configurazione permette la misura delle proprietà superficiali di campioni di grandi dimensioni (fino a circa 200mm di diametro).
Ntegra (NT-MDT)
Sistema che consente sia la configurazione “stand alone” che la configurazione “a C”, ovvero è equipaggiato con scanner piezoelettrici sia per la modalità a scansione di campione sia di punta. Ciò consente l’utilizzo di un ampio range di dimensioni di scansione sia nel piano xy che nella direzione z. Possibilità di effetturare misure AFM e STM con scanner 75umx75umx5um o scanner 4umx4umx1um. Misure elettriche, in cella fluida, a temperatura variabile da RT a 300C, misure acustiche per proprietà meccaniche.
A10 (APE Research)
Sistema dotato di due scanner separati per il movimento xy e z; lo scanner xy è uno scanner piano che consente elevata linearità di scansione, accuratezza e riproducibilità del posizionamento. Range di scansione 50umx50umx12um.
Profilometri
Micro XAM (ADE Phase Shift)
Profilometro ottico in non-contatto per misure di rugosità, finitura e qualità delle superfici con risoluzione di circa 1Å e massima risoluzione laterale di circa 0.5µm.
Alpha-Stepper IQ (KLA Tencor)
Profilometro a stilo con step height repeatability di 7.5Å (1σ) or 0.1% e risoluzione sub-angstrom, punta con raggio 2µm e angolo conico a 40°.
Profilometro ottico in non-contatto per misure di rugosità, finitura e qualità delle superfici con risoluzione di circa 1Å e massima risoluzione laterale di circa 0.5µm.
Alpha-Stepper IQ (KLA Tencor)
Profilometro a stilo con step height repeatability di 7.5Å (1σ) or 0.1% e risoluzione sub-angstrom, punta con raggio 2µm e angolo conico a 40°.